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中达瑞和受邀参加2017刑事科学技术国际研讨会

发布时间:2017-11-21


2017年11月15日-17日,“2017刑事科学技术国际研讨会”在北京隆重举行,此次会议由中国人民公安大学刑事科学技术学院联合上海市现场物证重点实验室主办,弘德网协办。全国20多个省市自治区公安部门、公安政法院校、检察院、司法鉴定机构等单位的180多位技术专家参加了本次会议。

 

研讨会围绕公安刑侦及物证鉴定等方面的高新技术及装备展开讨论,来自美国、荷兰及国内刑事技术领域知名专家应邀出席。深圳市中达瑞和非常荣幸被受邀参加了本会研讨会,会上我司销售总监王啸虎向专家们汇报了中达瑞和高光谱成像技术在公安领域的应用的专题演讲,并与参会人员进行了深入交流。众多公安专家及领导对新一代的面阵成像高光谱技术及其未来的实战应用表现出了浓厚的兴趣,并提出诸多宝贵的建议。

 

中达瑞和自今年4月28日通过全国公安系统对我司“智能感知凝视型高光谱成像仪”专家评审会,被评定为“国内首创,国际领先”。中达瑞和不忘初心,砥砺奋进,根据我国公安刑侦等的实际需求,不断改进与创新我们的设备,并与全国各省市公安厅/局及公安院校的合作计划正逐一展开。

 

 

《2017刑事科学技术国际研讨会》隆重开幕


 

2017刑事科学技术国际研讨会现场

 

 

中达瑞和销售总监王啸虎向专家们汇报我司高光谱的应用与解决方案

 

 

2017刑事科学技术国际研讨会与会人员大合照

 


信息来源:2017刑事科学技术国际研讨会