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短波红外凝视型高光谱成像仪(SHIS SWIR)

高光谱成像仪采用LCTF与传统的光栅推扫型成像光谱仪相比,通过电控实现快速光谱连续或间断调谐,无推扫过程,光路简单,具有体积小、重量轻、易于安装和携带、扫描速度快,波长可自由选取等特点,可与三角架、操作台配合使用,亦可搭载在小型机载平台上。由于采用的是面阵成像探测技术,在空间分辨率、成像视场等方面也具有优势。

  • 基本参数
  • 技术优势
  • 应用领域

产品型号

参数

SHIS   SWIR -10/20-20-S

光谱范围

920nm~1700nm

SENSOR成像感光尺寸

9.6mm×7.68mm

SENSOR像元大小

15μm×15μm

SENSOR分辨率

640×512

SENSOR数据深度

14位

快门

Snap   shot

LCTF通光孔径

20mm

LCTF最大偏振透过率

≧32%

LCTF扫描精度

1nm

LCTF波长设定时间*

10ms~200ms

LCTF半高宽(FWHM)

15nm@1200nm

LCTF视场角

±5°

图像格式

img(ENVI)

镜头重量

245g

镜头长度

51.22mm

镜头接口

C口

最大光圈

F1.4   ~ F16

通讯接口

USB3.0

工作温度

0℃ ~   45℃

最佳工作温度

25℃   ~ 35℃

湿度

≤85%

配件*2

USB3.0(3m)一条;电源适配器(DC5V5A)一个。

尺寸(不含镜头)

268(高)mm×89(宽)mm×132(长)mm

重量(含镜头)

1845g

软件

软件安装包

注:

● 航空插座为预留的TEC加热,标准品并不包含加热控制器;

● 可使用F口微距环(选配),增加放大率

● 光源、镜头可根据需求选配

结构件外形及接口尺寸图

shis vnir.jpg

外观结构接口(SHIS VNIR)

了解更多详情,请联系:info@wayho.cn